Korund, kostbare korund, korund stenen
Kerngegevens over korund, kostbare korund, korund stenen
- Samenstelling: Alumoxide-eikensteensoorten met > 90% Al2O3, met toevoeging van Cr2O3 als korund chroomoxide steen. Productie door het verminderen van de smelt in de elektrische boogoven.
- Grondstoffen: Gecalcineerde, al-rijke bauxieten
- Hoe te gebruiken: Oveninstallaties van de petrochemische en chemische industrie (roetreactoren), glasbadovens, afvalstookinstallaties, hoogovens.
Soorten onderzoek voor de analyse van korund, edelkorund en korundstenen
- diverse uitgebreide meetprogramma's voor röntgenfluorescentieanalyse van korund uit een smeltende vertering
- Screeninganalyse voor maximaal 71 elementen uit één poederpellet
- aanvullende onderzoeken
- Bepaling van de bulkdichtheid en poreusheid
- Analyse van koolstof - TC, TOC, TIC
- X-ray microanalyse, EDX voor de identificatie van insluitsels, onzuiverheden, enz.
Kwantitatieve röntgenfluorescentieanalyse van een smeltvertering
Kwantitatieve XRF van één orodispergeerbare tablet op 12, 16, 20, 30 of 40 elementen volgens DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19. Voor de analyse van geoxideerde en geoxideerde monsters van verschillende samenstellingen zoals glas- en glasvezels, bodems, rotsen, minerale grondstoffen, keramische of mineraal gebonden bouwmaterialen, enz.
Bij dit proces wordt het monstermateriaal met een flux (lithiumtetraboraat) geplaatst, gesmolten in een oxiderende atmosfeer, geblust als een homogene glastablet en als zodanig met grote precisie geanalyseerd.
! Let op !
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analytische fijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de Prijslijst XRF algemene voorwaarden.
Screening analyse op 71 elementen
Het Fundamentele Parameter Program Omnian wordt gebruikt voor matrix-onafhankelijke, kwantitatieve, semi-kwantitatieve of kwalitatieve XRF van onbekende monsters van verschillende materiaaleigenschappen en samenstellingen (anorganisch en organisch). Het monstermateriaal kan in voorbereide vorm of met een geschikte samenstelling worden bereid (röntgen- en vacuümbestendig!) en oppervlaktetextuur kunnen onvoorbereid en niet-destructief worden geanalyseerd, waarbij elementconcentraties tussen de detectielimiet, gewoonlijk 250 µg/g en 100% kunnen worden bepaald.
! Let op !
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analytische fijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de Prijslijst XRF algemene voorwaarden.
Normen en richtlijnen voor röntgenfluorescentieanalyse van korund, edelkorund, korund stenen
- DIN EN ISO 12677:2013-02 - Chemische analyse van vuurvaste producten door röntgenfluorescentieanalyse (XRF) - Smeltproces
- DIN EN ISO 26845:2008-06 - Chemische analyse van vuurvaste producten - Algemene eisen voor natte chemische analyse, atomaire absorptiespectrometrie (AAS) methoden, atomaire emissiespectrometrie geëxciteerd door een inductief gekoppeld plasma (ICP-AES)
- DIN 51001:2003-08 - Testen van oxidische grondstoffen en materialen - Algemene werkingsprincipes voor röntgenfluorescentieanalyse (XRF)
- DIN 51001 Supplement 1:2010-05 - Testen van oxidische grondstoffen en materialen - Algemene werkingsprincipes voor X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Overzicht van stofgroepen gebaseerde verteringsmethoden voor de productie van monsters voor de XRF
- DIN 51081:2002-12 - Testen van oxidische grondstoffen en materialen - Bepaling van massaveranderingen tijdens het gloeien
- DIN 51418-1:2008-08 - X-ray spectrale analyse - X-ray emissie en X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Deel 1: Algemene voorwaarden en basisbeginselen
- DIN 51418-2:2015-03 - X-ray spectrale analyse - X-ray emissie en X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Deel 2: Termen en basisprincipes voor meting, kalibratie en evaluatie